CAS OpenIR  > 中科院上海应用物理研究所2004-2010年
基于原子力显微镜抬高模式的DNA分子高度测量
郭云昌,周星飞,孙洁林,李民乾,胡钧; 郭云昌
2004-08-15
Source Publication科学通报
Issue15
Abstract在传统的轻敲模式原子力显微镜基础上利用抬高模式对DNA分子的高度进行了测量研究. 通过不断抬高针尖高度, 逐步减小针尖对样品的作用力, 以测量软样品的形变量, 并通过记录针尖的抬高高度来计算DNA分子的高度. 实验中利用抬高模式测得的DNA分子高度为1.5±0.2 nm, 而传统轻敲模式下测得的DNA分子的高度为0.8±0.2 nm, 表明针尖对DNA的作用力是导致传统轻敲模式测得DNA分子高度较低的重要因素. 同时本文采取的方法也适用于测量其他软样品的高度.
Keyword抬高模式 原子力显微镜 抬高扫描高度 弹性形变 高度测量
Indexed ByCNKI
Funding Project应物所项目组
Document Type期刊论文
Identifierhttp://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/9316
Collection中科院上海应用物理研究所2004-2010年
Corresponding Author郭云昌
Recommended Citation
GB/T 7714
郭云昌,周星飞,孙洁林,李民乾,胡钧,郭云昌. 基于原子力显微镜抬高模式的DNA分子高度测量[J]. 科学通报,2004(15).
APA 郭云昌,周星飞,孙洁林,李民乾,胡钧,&郭云昌.(2004).基于原子力显微镜抬高模式的DNA分子高度测量.科学通报(15).
MLA 郭云昌,周星飞,孙洁林,李民乾,胡钧,et al."基于原子力显微镜抬高模式的DNA分子高度测量".科学通报 .15(2004).
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