CAS OpenIR  > 中科院上海应用物理研究所2011-2019年
同步辐射双晶单色器平行度测量方法研究
刘石磊
Subtype硕士
Thesis Advisor王纳秀
2011-05
Degree Grantor中国科学院研究生院
Degree Discipline光学工程
ClassificationTH741.8
Keyword双晶单色器 平行度 自准直仪 光笔干涉法
Abstract本文主要是针对上海光源(SSRF)光束线建设和自主研制晶体单色器需要进行双晶晶体表面(晶面)平行度离线测量的需求,在Jun Lim 和 Seungyu Rah 等人提出的光笔干涉仪法原理基础进行了改进,用十字位相板取代盖玻片,并开展原理性实验研究。通过探测光与参考光的干涉图样在CCD 上面是否重合来判断双晶是否达到平行,从而在实验上验证了十字位相板光笔干涉仪法测量双晶晶体表面平行度的可行性。
Funding Project应物所项目组
Language中文
Document Type学位论文
Identifierhttp://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/9650
Collection中科院上海应用物理研究所2011-2019年
Recommended Citation
GB/T 7714
刘石磊. 同步辐射双晶单色器平行度测量方法研究[D]. 中国科学院研究生院,2011.
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