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基于法线追迹原理的新型高精度面形检测系统 期刊论文
核技术, 2017, 期号: 9, 页码: "5-14"
Authors:  彭川黔;  何玉梅;  王劼
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法线追迹原理  加工缺陷  折射率不均匀  纳弧度检测系统  同步辐射光源