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Optimization of pencil beam f-theta lens for high-accuracy metrology 期刊论文
OPTICAL ENGINEERING, 2018, 卷号: 57, 期号: 1, 页码: -
Authors:  Peng, CQ;  He, YM;  Wang, J
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Long Trace Profiler  Surface Profiler  Deflectometry  Ellipse  Mirrors  Circle  Range  
基于法线追迹原理的新型高精度面形检测系统 期刊论文
核技术, 2017, 期号: 9, 页码: "5-14"
Authors:  彭川黔;  何玉梅;  王劼
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法线追迹原理  加工缺陷  折射率不均匀  纳弧度检测系统  同步辐射光源  
Normal tracing deflectometry using a secondary light source 期刊论文
JOURNAL OF SYNCHROTRON RADIATION, 2017, 卷号: 24, 期号: -, 页码: 765-774
Authors:  Peng, CQ;  He, YM;  Wang, J
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Surface Profiler  Accuracy  Mirrors  
一种长程面形测量仪 专利
专利类型: 实用新型, 专利号: CN205642307U, 申请日期: 2016-10-12, 公开日期: 2016-10-12
Authors:  彭川黔;  何玉梅;  王劼
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一种长程光学表面面形检测仪 专利
专利类型: 实用新型, 专利号: CN205505988U, 申请日期: 2016-08-24, 公开日期: 2016-08-24
Authors:  彭川黔;  何玉梅;  王劼
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一种长程光学表面面形检测系统 专利
专利类型: 实用新型, 专利号: CN205505989U, 申请日期: 2016-08-24, 公开日期: 2016-08-24
Authors:  彭川黔;  何玉梅;  王劼
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一种长程面形测量装置 专利
专利类型: 实用新型, 专利号: CN205505990U, 申请日期: 2016-08-24, 公开日期: 2016-08-24
Authors:  彭川黔;  何玉梅;  王劼
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一种长程光学表面面形检测仪 专利
专利类型: 发明专利, 专利号: CN105758333A, 申请日期: 2016-07-13, 公开日期: 2016-07-13
Authors:  彭川黔;  何玉梅;  王劼
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一种长程面形测量装置 专利
专利类型: 发明专利, 专利号: CN105737759A, 申请日期: 2016-07-06, 公开日期: 2016-07-06
Authors:  彭川黔;  何玉梅;  王劼
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一种长程面形测量仪 专利
专利类型: 发明专利, 专利号: CN105737758A, 申请日期: 2016-07-06, 公开日期: 2016-07-06
Authors:  彭川黔;  何玉梅;  王劼
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